我們常看到的(de)一些3C產品，里面都有(you)安裝鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)具有(you)高能量密度、高電(dian)(dian)壓、壽(shou)命長、無記憶效應等(deng)優點，是21世紀發展的(de)理想電(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)可(ke)(ke)廣泛(fan)應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦(nao)、筆(bi)記本電(dian)(dian)腦(nao)、可(ke)(ke)穿戴(dai)設備等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)容易因(yin)短路、過充(chong)等(deng)原因(yin)燒毀(hui)或爆炸，所以很危險(xian)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)是鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)制造和(he)組裝的(de)重要(yao)環節(jie)，是實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)能和(he)安全靠譜(pu)使(shi)用的(de)有(you)力保障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)項(xiang)目主(zhu)要(yao)包括一致性(xing)、功(gong)能性(xing)、安全性(xing)、靠譜(pu)性(xing)和(he)工(gong)況模擬(ni)。

　　3C鋰電池測(ce)(ce)試(shi)對電池測(ce)(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)的選(xuan)擇(ze)很重要(yao)。目前市場(chang)上廣泛使(shi)用(yong)的電池測(ce)(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)有兩種(zhong)(zhong)，一種(zhong)(zhong)是凱智通(tong)大電流彈片微針模(mo)塊(kuai)，另一種(zhong)(zhong)是pogo pin探針模(mo)塊(kuai)。通(tong)過比較兩者的優缺點，我們可以更(geng)直觀地(di)區分哪一個更(geng)符合要(yao)求3C鋰電池測(ce)(ce)試(shi)要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，歐美日韓精品:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論(lun)面對(dui)小間距還是大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊都有(you)(you)很(hen)好的(de)應對(dui)方法(fa)。pitch在該領域，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊是可(ke)取的(de)pitch值(zhi)在0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定(ding)(ding)靠譜。面對(dui)大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)試(shi)要求，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)塊可(ke)通過的(de)額定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)，幾乎沒(mei)有(you)(you)電(dian)(dian)流(liu)(liu)衰減，具有(you)(you)良好的(de)連接功能(neng)，可(ke)以(yi)很(hen)大(da)限(xian)度地保障3C鋰(li)電(dian)(dian)池測(ce)試(shi)的(de)穩定(ding)(ding)性。

　　就(jiu)使(shi)用壽命而言，pogopin探針模塊的試驗壽命在于5w大電流彈片微針模塊的試驗壽命約為20w以(yi)上，比(bi)(bi)較pogopin探針模塊整(zheng)整(zheng)多(duo)了四倍！pogopin探針模塊為多(duo)組(zu)件結構，生(sheng)產工藝復雜，生(sheng)產難(nan)度高，交貨(huo)周期長；大型(xing)電流彈片微針模塊為一體化彈片結構，輕、扁平，可根(gen)據客戶要(yao)求定(ding)制(zhi)，生(sheng)產難(nan)度低，交貨(huo)周期短。相(xiang)比(bi)(bi)之下，大型(xing)電流彈片微針模塊的成本性能并不太高！

　　對(dui)比母座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)(lv)，pogopin探針模(mo)組針對(dui)BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器母座(zuo)幾(ji)乎無法(fa)實現(xian)，穩定(ding)性極差。大(da)部分采用(yong)觸(chu)(chu)摸方(fang)案對(dui)應，母座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)(lv)不到80%；母座(zuo)上(shang)有一(yi)種(zhong)特別的大(da)電流彈片(pian)微針模(mo)塊對(dui)應方(fang)法(fa)。將(jiang)斜口型（也(ye)稱尖頭型）彈片(pian)頭插入連(lian)接(jie)(jie)(jie)器內(nei)端子(zi)，以保(bao)(bao)持一(yi)定(ding)的開度(du)，從而保(bao)(bao)障彈片(pian)的接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)面和(he)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)面BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器端子(zi)兩(liang)側保(bao)(bao)持接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)狀(zhuang)態，使測(ce)試(shi)穩定(ding)，母座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)(lv)高(gao)達99.8%。

　
　大(da)電流彈片(pian)微針模塊測試效率高，穩定性好。與(yu)同一產品測試前后(hou)相比，連接(jie)器基本上看不到刺痕，不會對產品造成任何(he)損(sun)壞pogopin探(tan)針電池測試模塊更值得(de)選擇和信(xin)賴。