21世紀(ji)發展的(de)理想(xiang)電源。鋰(li)(li)電池(chi)(chi)可(ke)廣泛應用于(yu) 3C 也被稱(cheng)為手(shou)機(ji)、平(ping)板電腦(nao)、筆記本電腦(nao)、可(ke)穿戴(dai)設備等(deng)領域，鋰(li)(li)電池(chi)(chi)具有(you)能量密度高、電壓高、壽命長、無記憶(yi)效應等(deng)優(you)點，3C鋰(li)(li)電池(chi)(chi)是容易因短路、過充等(deng)原因燒(shao)毀或爆炸(zha)，所以(yi)很危險3C鋰(li)(li)電池(chi)(chi)測試(shi)是鋰(li)(li)電池(chi)(chi)制造和(he)組裝的(de)重(zhong)要(yao)環節，是實現鋰(li)(li)電池(chi)(chi)性(xing)能和(he)安(an)(an)全靠譜使用的(de)有(you)力(li)保障。3C鋰(li)(li)電池(chi)(chi)測試(shi)項(xiang)目(mu)主要(yao)包括一致性(xing)、功能性(xing)、安(an)(an)全性(xing)、可(ke)靠性(xing)和(he)工(gong)況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是歐美日韓精品:pogopin探(tan)針模塊。通過比較(jiao)兩者的優缺點，我們可(ke)以更直(zhi)觀地區(qu)分哪(na)一(yi)個更符(fu)合要(yao)求3C鋰電池測試要(yao)求。

　　從目前的市場趨(qu)勢來看，3C電(dian)(dian)子產品內部空間集(ji)成度高(gao)，pitch不(bu)(bu)斷縮小，pogopin探(tan)針模組在小pitch該領域適應性(xing)差，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之(zhi)間的pitch壽命和穩定性(xing)差。3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試對電(dian)(dian)流(liu)的需(xu)求很大，pogopin探(tan)針模塊能(neng)承載(zai)的額定電(dian)(dian)流(liu)僅為1A，在傳輸過程(cheng)中，電(dian)(dian)流(liu)會在不(bu)(bu)同位衰減(jian)，導致連接不(bu)(bu)穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片(pian)微針模組無論是面對小間距(ju)還是大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，都有很好的(de)應對方(fang)法。在小pitch在該領域，大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片(pian)微針模塊是可取的(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)(xing)能穩定(ding)(ding)可靠(kao)。面對大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測試要求，大(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈(dan)片(pian)微針模塊可通過的(de)額定(ding)(ding)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰減，具有良好的(de)連接功能，可以很大(da)限度地保障(zhang)3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測試的(de)穩定(ding)(ding)性(xing)(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就(jiu)使用壽命(ming)(ming)而(er)言，pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的(de)試(shi)驗壽命(ming)(ming)在(zai)于5w大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)組的(de)試(shi)驗壽命(ming)(ming)約為20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)整整多(duo)了(le)四倍!況且pogo pin探針(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)為多(duo)組件結構(gou)，生產工藝復雜，生產難度(du)高(gao)，交(jiao)貨期長;大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)組是一種集成(cheng)彈(dan)片(pian)(pian)結構(gou)，輕(qing)、扁平，可根據客戶要求定(ding)制(zhi)，生產難度(du)低(di)，交(jiao)貨期短。相比之下，通大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)組的(de)成(cheng)本(ben)性能并不(bu)太(tai)高(gao)!

　　對(dui)比母(mu)(mu)(mu)座(zuo)測試(shi)(shi)良(liang)率(lv)(lv)，pogopin針對(dui)探針模塊(kuai)BTB連接(jie)(jie)器(qi)母(mu)(mu)(mu)座(zuo)幾乎無法實現，穩定(ding)性極差。大部分(fen)采(cai)用(yong)觸摸方案對(dui)應(ying)，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)測試(shi)(shi)良(liang)率(lv)(lv)不(bu)到80%;母(mu)(mu)(mu)座(zuo)上有(you)一種(zhong)特別的通大電流彈(dan)片(pian)微針模組對(dui)應(ying)方法。將斜口型(也稱尖頭型)彈(dan)片(pian)頭插入(ru)連接(jie)(jie)器(qi)內端(duan)子，以(yi)保(bao)(bao)持一定(ding)的開度，從而保(bao)(bao)障彈(dan)片(pian)的接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器(qi)端(duan)子兩側保(bao)(bao)持接(jie)(jie)觸狀態，使測試(shi)(shi)穩定(ding)，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)測試(shi)(shi)良(liang)率(lv)(lv)達到99.8%。

　　大電(dian)流彈片微針模組測(ce)試(shi)效率高(gao)，穩定(ding)性好。與同一產品測(ce)試(shi)前后相比，連接器基(ji)本(ben)上看(kan)不到(dao)刺痕，不會(hui)對(dui)產品造成任(ren)何損壞(huai)pogo pin電(dian)池測(ce)試(shi)模塊更(geng)值得選擇(ze)和信賴(lai)。