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關于BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)試,目前大部份的(de)企業、廠(chang)商采用(yong)輕觸(chu)計(ji)劃降臨時應對;運用(yong)pogo pin的(de)廠(chang)商測(ce)試母(mu)座時,只能(neng)接(jie)觸(chu)連接(jie)器(qi)端子(zi)頂點位置(zhi),接(jie)觸(chu)區域(yu)面(mian)積小(xiao),接(jie)觸(chu)方式為點對點,相對彈片接(jie)觸(chu)面(mian)小(xiao),易磨損及運用(yong)次數(shu)到一定的(de)壽命后(hou)易接(jie)觸(chu)不良,招致誤(wu)測(ce)等(deng)現象(xiang)。
pogopin是(shi)由(you)彈簧、針(zhen)管、針(zhen)軸(zhou)三個(ge)根本部件預壓之后構成的(de)彈簧式(shi)探針(zhen);它自身由(you)幾個(ge)部件制造、裝配(pei)、涂裝而成,工(gong)藝程序復雜,但運用壽(shou)命仍然不高;由(you)于pogopin自身存(cun)在的(de)一些問題,在實(shi)(shi)踐操作針(zhen)對BTB母(mu)座connector測試時,我們理解到一些廠商的(de)實(shi)(shi)踐狀況:
1.測試不穩定(ding),pogopin自(zi)身是多配件構造,接(jie)(jie)觸點(dian)多,易產(chan)生接(jie)(jie)觸不穩定(ding)、阻抗分歧性低(di)等(deng)問題(ti);
2.測試時(shi)探針經常性(xing)扎歪,然后需求人員(yuan)重新進行探針調整,糜費了大(da)量的時(shi)間和人工(gong)本錢;
3.卡(ka)PIN:同樣由(you)(you)于(yu)由(you)(you)多構造(zao)組合(he)而成,這個在pogopin身上是防止不了的問題;
4.極易斷針(zhen):隨(sui)著pitch的減少,pogo的針(zhen)徑也(ye)越來越小,使得(de)探針(zhen)的斷針(zhen)風(feng)險逐步增加;
5.運用(yong)(yong)壽(shou)命很短(duan):探針的運用(yong)(yong)壽(shou)命均在30000次以下(xia),并容易磨損(sun),運用(yong)(yong)次數(shu)到一定的壽(shou)命后(hou)易招致(zhi)接觸不良、誤測等現象(xiang);
以上(shang)(shang)狀況相對呈現率(lv)較高,針對以上(shang)(shang)的(de)狀況,自然導致企(qi)業本錢(qian)的(de)增(zeng)加,測試穩定性(xing)差,良品率(lv)低等(deng)問題。
針(zhen)對以上運用pogo測試BTB母座connector,下面簡單引(yin)見(jian)幾個(ge)方面:
1.彈片(pian)微針模組有一(yi)體(ti)成(cheng)型,后期(qi)加硬鍍金處置,接觸外形(xing)(可(ke)定(ding)制(zhi)化)很容易依照客戶請求制(zhi)造;彈片(pian)為一(yi)體(ti)化構造,減少了接觸點(dian),防止產生接觸不穩定(ding)、阻抗分(fen)歧性低等問題;
2.在測(ce)試母座時(shi),彈(dan)片(pian)頭部插入(ru)連(lian)接(jie)器(qi)內端子(zi),使(shi)其產生一定的張(zhang)開量(liang),這樣(yang)能(neng)夠保(bao)障(zhang)彈(dan)片(pian)接(jie)觸(chu)面與BTB連(lian)接(jie)器(qi)端子(zi)兩面不斷堅持接(jie)觸(chu)狀(zhuang)態(tai);測(ce)試公座時(shi),鋸齒(chi)型(xing)彈(dan)片(pian)大面積充沛(pei)和(he)連(lian)接(jie)器(qi)接(jie)觸(chu)點接(jie)觸(chu),保(bao)障(zhang)測(ce)試穩定;
3.電傳播導于同一資料體內,電阻恒定,簡直沒有電流(liu)衰(shuai)減,具有更(geng)好的(de)銜接功用,額定電流(liu)為3A;
4.由于(yu)一體成型(xing),完整(zheng)不會呈現卡pin現象,并且(qie)運用壽命能到達30萬次(ci)以上;
5.測試母座時,定(ding)(ding)制的斜(xie)口性彈片(pian)(pian)(pian)的頭(tou)(tou)部插入BTB連接(jie)器(qi)內(nei)彈片(pian)(pian)(pian)啟齒之間,對BTB連接(jie)器(qi)彈片(pian)(pian)(pian)產生一定(ding)(ding)的張開量,微針模組彈片(pian)(pian)(pian)接(jie)觸面(mian)與BTB連接(jie)器(qi)彈片(pian)(pian)(pian)兩面(mian)不斷堅持接(jie)觸狀態(tai),微針模組彈片(pian)(pian)(pian)頭(tou)(tou)型自(zi)清潔設計免維護保障長期(qi)穩定(ding)(ding)性;
6.一(yi)體(ti)式設計,準確(que)度高(gao),完整不會(hui)呈現扎(zha)歪的(de)問(wen)題;
7.大電流BTB彈片(pian)微針模組的(de)測試(shi)良率能到達(da)99.5%;
8.能(neng)更好的(de)應對pitch≤0.2mm的(de)范疇(chou);
9.運用彈片微針模組(blade block)在(zai)同一模組,測試前和測試20次后,連接(jie)器上(shang)根本看不到任何扎痕(hen);
針對市場(chang)上,企業運用(yong)pogopin一(yi)系(xi)列的(de)問(wen)題(ti),我們(men)自主(zhu)創(chuang)新的(de)大電(dian)流BTB彈片微(wei)針模組(blade block)的(de)處理(li)計劃能更好的(de)應(ying)對,協助(zhu)企業儉省本錢。
相較于目前市場上的痛(tong)點(dian),大(da)電(dian)流彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)組(blade block),一體成型(xing)的彈(dan)(dan)片根卡pin、銜接穩定(ding)性(xing)差、斷針(zhen),接觸外形可定(ding)制化防止了(le)產生(sheng)接觸不穩定(ding)、阻抗分歧性(xing)低,能(neng)應(ying)對pitch≤0.2mm、測試(shi)效率高、穩定(ding)性(xing)高、能(neng)兼容小(xiao)pitch BTB公母(mu)座(zuo)穩定(ding)且牢靠(kao)、能(neng)接受(shou)的頂(ding)點(dian)為50A大(da)電(dian)流、運用壽命更長、快速出樣、訂貨周期短等優點(dian)。